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无损检测技术资格人员考试
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无损检测技术资格人员考试
JB/T4730.3-2005标准规定：晶片面积一般不大于（），且任一边长原则上不大于25mm。
A、250mm
2
B、400mm
2
C、500mm
2
D、625mm
2
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JB/T4730.3-2005标准规定：
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