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无损探伤工

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CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

  • A、测定斜探头K值
  • B、测定直探头盲区范围
  • C、测定斜探头分辨率
  • D、以上全部
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