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化学分析工考试

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波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

  • A、溢出
  • B、漏计
  • C、自吸
  • D、吸收
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