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无损检测技术资格人员考试
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无损检测技术资格人员考试
GB/T7233-87标准规定;探伤面上进行扫查时,相邻两次扫查应相互重叠为约晶片尺寸的()
A、10%
B、15%
C、20%
D、以上都可以
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