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中药制剂分析

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薄层荧光扫描法定量时斑点中组分的浓度与荧光强度遵循（）

  • A、朗伯-比耳定律
  • B、Kubelka- Munk曲线
  • C、F=KC
  • D、非线性关系
  • E、塔板理论
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